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​​​​​TEC温控器系列​​​

• 直流输出,双向温控,快速加热/制冷

• 智能PID算法,控温精度 ±0.1℃

• 集成1/2/4/8通道采集、1/2/4/8通道控制输出,直驱TEC

光模块误码仪 · 芯片老化 · 晶圆测试全覆盖

适合需要高精度、单向或双向冷热控制、快速响应的控温场景,如芯片老化测试、芯片高低温测试、晶圆老化测试、光模块高低温误码测试等。

光模块测试误码仪

芯片老化测试设备

芯片高低温测试设备

晶圆老化测试设备

集成式直流温控器

• 支持4/8通道热电偶温度采集与控制输出,直接驱动直流负载

• 智能PID算法,每个通道独立控温,控温精度 ±0.1℃

• 支持1路上行网口和2路RS485通讯,最多并接15台从机

通过内部总线串联方式接入多台 SSA1008 功率调节器,每台 8 路输出,最多扩展至 64 路。相比传统逐路接线方式,大幅简化布线,实现一线扩展,即插即用,降低施工和维护成本。

新一代TMA组合式温控系统

 

• 多达64路温度测控

• 每路独立PID精准控制

• TC/AI/AO/DO/DI等多类型模块灵活组合

• TYPEC-C维护口,配置一键复制

• 多重保护,品质稳定可靠  

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多路一体式温控器

 

 

• 最多16路独立温控采集及控制

• 体积小,集成度高

• 传感器断线告警,输出短路保护

• 标准导轨安装,拔插端子

G系列组成式IO模块
 

• AI/AO/DO/DI等多类型模块灵活组合

• Ethercat/EIP等多协议支持

• 短路保护、浪涌保护等多重保护机制

• TYPEC口支持,随时随地查看状态信息

• 带数码显示,维护方便

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